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对比TI & 英诺赛科:650V GaN器件开关损耗技术特点

作者:admin   发布时间:2025-03-21 13:21:27   点击量:

在追求更高效率和更小尺寸的电源解决方案时,德州仪器(TI)和英诺赛科(Innoscience)都提供了超越传统硅基方案的氮化镓(GaN)器件。虽然两者都展现出GaN技术的优越性,但在具体性能特点和适用场景上各有千秋,需要根据实际应用需求进行仔细评估。

 

TI IC.jpg

德州仪器(TI)的GaN器件着重于硬开关性能的优化。这意味着它们在需要频繁且快速地开启和关闭开关的电路中表现出色。其优势主要体现在:

在高频率下依然能够保持高效运行,降低能量损耗。

显著降低了在开关切换时产生的能量损失,提高了整体系统效率。

更快的开关速度允许更高的工作频率,从而能够设计出更小巧、功率密度更高的电源转换器。

鉴于其优异的开关性能和低损耗,TI的GaN器件非常适合应用于需要尽可能减小尺寸和重量,同时保持高功率输出的应用,例如服务器电源、电动汽车充电桩等。

 

英诺赛科(Innoscience)的GaN器件则侧重于开关损耗的优化和高压应用性能。其优势在于:

较低的寄生电容可以减少开关过程中的能量损耗,提高效率。

通过优化器件结构和工艺,英诺赛科显著降低了开关过程中的损耗,特别是在高频率下表现更加明显。

在高电压应用场景下,英诺赛科的GaN器件表现出更高的效率和可靠性,例如在新能源汽车的高压电池系统中。

英诺赛科不断探索新的器件结构和制造工艺,以进一步提升GaN器件的性能,使其在高压、高频等应用场景中更具竞争力。


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